● 高速測量2ms ● 能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測量值，進(jìn)行被測物合格與否的判斷
● 對應(yīng)測試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能
● 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測物體的測試
● 3504-40記錄工具，實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測試
● 查出全機(jī)測量中的接觸錯(cuò)誤，提高成品率
15800509017
產(chǎn)品中心
當(dāng)前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 日置Hioki > 元器件參數(shù)測試附件 > 3504-40C測試儀
簡要描述：C測試儀 3504-40封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級分類等C、D 2項(xiàng)目測試 能以恒定電壓測量大容量的多層陶瓷電容 測試源頻率: 120Hz, 1kHz 高速測量: 2ms RS-232C
產(chǎn)品型號：3504-40廠商性質(zhì)：代理商更新時(shí)間：2024-10-30訪 問 量：188相關(guān)文章ARTICLES
詳細(xì)介紹
| 品牌 | HIOKI/日本日置 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
|---|
● 高速測量2ms ● 能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測量值，進(jìn)行被測物合格與否的判斷
● 對應(yīng)測試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能
● 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測物體的測試
● 3504-40記錄工具，實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測試
● 查出全機(jī)測量中的接觸錯(cuò)誤，提高成品率
輸入用探頭/測試夾具，實(shí)體不附帶。按照測量目的，不同型號有不同的探頭/測試夾具選件
概要
規(guī)格
選件
相關(guān)下載
| 測量參數(shù) | Cs,Cp（電容）,D（損耗系數(shù)tanδ） |
|---|---|
| 測量范圍 | C:0.9400pF～20.0000mF D:0.00001～1.99000 |
| 基本精度 | （代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016 ※測定精度= 基本精度× B× C× D× E, B～E為各系數(shù) |
| 測量頻率 | 120Hz, 1kHz |
| 測量信號電平 | 恒壓模式: 100mV (僅限3504-60)， 500 mV, 1 V 測量范圍: CV 100mV:～ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz) CV 500mV: ～ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz) CV 1V: ～ 70μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 700μF 量程 (測量頻率 120Hz) |
| 輸出電阻 | 5Ω（CV測量范圍以外的開路端子電壓模式時(shí)） |
| 顯示 | 發(fā)光二級管 （6位表示，滿量程計(jì)算器根據(jù)量程而定） |
| 測量時(shí)間 | 典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST） ※測量時(shí)間根據(jù)測量頻率、測量速度的不同而不同 |
| 功能 | BIN分類測量 (3504-40除外), 觸發(fā)同步輸出, 測量條件記憶, 測量值的比較功能, 平均值功能, Low-C篩選功能, 振動(dòng)功能, 控制用輸出輸入 (EXT. I/O), RS-232C接口（標(biāo)配), GP-IB接口(3504-40除外) |
| 電源 | AC 100/120/220/240V ±10%（可選擇）, 50/60Hz, 最大110VA |
| 體積及重量 | 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg |
| 附件 | 電源線×1，預(yù)備電源保險(xiǎn)絲×1，使用說明書×1 |
2m長
查看詳情>>數(shù)碼打印
查看詳情>>適用于打印機(jī)9442
查看詳情>>適用于9442, 線長:1.5 m
查看詳情>>112mm x 25m, 10卷/盒
查看詳情>>用于底部有電極的SMD DC~120MHz，測試樣品 尺寸：寬1.0~4.0mm，高1.5
查看詳情>>用于側(cè)面有電極的SMD DC~120MHz，測試樣品 尺寸：3.5mm±0.5mm
查看詳情>>直接連接型, DC～5 MHz 測試尺寸: 1mm～10.0mm
查看詳情>>DC～8 MHz, 直接連接型
查看詳情>>電纜連接型, DC ～ 5 MHz, 1m長
查看詳情>>線長73cm，DC～8MHz，50Ω，前端電極間隔：0.3～6mm
查看詳情>>DC～100kHz, 1m長
查看詳情>>最shi用于分揀·檢查的電容測試儀電容測試儀 3506-10 ·模擬測量時(shí)間0.5ms(1MHz)的高速測量·抗干擾性提高，微小電容的反復(fù)精度大幅提高·使用1MHz穩(wěn)定測量低容量電容電容測試儀 3504-60,3504-50,3504-40 · 模擬測量時(shí)間1ms(1kHz)可測量定電壓，最shi用于測量高容量MLCC ·可測量高達(dá)1.45mF的高容量定電壓(120Hz，500mV時(shí)) ·3504-60可進(jìn)行4端子接觸檢查。
3506-10, 3504-60, 3504-50, 3504-40共通優(yōu)點(diǎn)共通優(yōu)點(diǎn)
■對應(yīng)JIS C 5101-1的電容測試儀3506~3504的測量頻率電容的種類去除電解電容的電容容量范圍C C≤1000pF 1000pF＜C≤10µF測量頻率[Hz]
●記號為推薦頻率1M對應(yīng)機(jī)型
● 3506-10 1k ● 120 10µF＜C電解電容
■ BIN功能---C測量根據(jù)測量值最多分類為14個(gè)等級※1，易于進(jìn)行分揀等?！? 3506,3505最多為13個(gè)等級。3504-40無BIN功能。
● 120 ○
■ 只需選擇的簡單操作&LED顯示3504-60 3504-50 3504-40 3511-50 (參考)只需從面板標(biāo)記項(xiàng)目中進(jìn)行選擇，操作簡單。設(shè)定好的測量條件會點(diǎn)亮，能夠一目了然把握設(shè)定條件。
■ 比較器功能第一參數(shù)(C)、第2參數(shù)(D)可各自設(shè)置上下限值。判定結(jié)果可進(jìn)行蜂鳴、LED顯示以及外部輸出，設(shè)定值始終顯示。
■ 存儲功能測量數(shù)據(jù)可保存在主機(jī)。可通過GP-IB，RS-232C讀出?！?506-10 ......................................1,000個(gè) 3504-60, 3504-50, 3504-40 ......32,000個(gè)
■ 觸發(fā)同步輸出功能施加觸發(fā)后輸出測量信號，僅在測量時(shí)將信號施加到被測物上。因?yàn)槭窃诮佑|被測物時(shí)流過大電流，因此能夠減少接點(diǎn)的損耗。
■可存儲99※2組測量條件最多可保存99組測量條件，可迅速對應(yīng)在重復(fù)測量較多的產(chǎn)線上切換被測物的情況?？衫肊XT I/O讀出任意測量條件。※2 3506-10最多為70組。
■標(biāo)配接觸檢查功能可檢測出測量過程中的接觸錯(cuò)誤?？闪硗夤芾碛羞^接觸錯(cuò)誤的樣品，對提高成品率做出貢獻(xiàn)。
產(chǎn)品咨詢
掃碼加微信
