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TH300-Cap 多通道電容器漏電流測(cè)試解決方案

簡(jiǎn)要描述:電解電容、鉭電容、陶瓷電容漏電流并行測(cè)試訂制通道高精度高速度一體化

  • 產(chǎn)品型號(hào):
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時(shí)間:2023-12-08
  • 訪  問  量:658

詳細(xì)介紹

簡(jiǎn)介

一.電容器漏電流相關(guān)知識(shí)

電容器是儲(chǔ)存電量和電能(電勢(shì)能)的元件,在兩個(gè)導(dǎo)體間夾一層不導(dǎo)電的絕緣介質(zhì),就構(gòu)成了一個(gè)基本電容器,不同種類的絕緣介質(zhì),決定了電容器的容量及承受電壓能力。

電子電路中,電容器在調(diào)諧、旁路、耦合、濾波等電路中起著重要的作用。

1. 電容器漏電流產(chǎn)生的原因

在電容器兩端加上電壓時(shí),電容器就會(huì)儲(chǔ)存電荷,但是,電容介質(zhì)不可能絕緣,當(dāng)電容加上直流電壓時(shí),電容器會(huì)有漏電流產(chǎn)生。

2. 電容器漏電流的危害

大電容,尤其是電解電容、鉭電容、陶瓷電容(大容量)電容量通常較高,通常用在電氣設(shè)備的電源供應(yīng)器、開關(guān)電源及直流-直流轉(zhuǎn)換器中,在交流電整流電路用作平滑及緩沖直流信號(hào)。

image.pngimage.pngimage.png

電容器漏電流會(huì)隨著溫度的增加而增加,也會(huì)隨施加電壓的增大而增大,因此,電器產(chǎn)品在使用時(shí)的可靠性高低主要取決于該產(chǎn)品的漏電流大小和高溫時(shí)該產(chǎn)品的漏電流變化率。

特別是在無電阻保護(hù)的低阻抗開關(guān)電源電路和大功率脈沖充放電電路里使用時(shí),該產(chǎn)品的上述特性將對(duì)電路可靠性影響非常大,幾乎是決定性的。

因?yàn)榇祟愲娐分写嬖陬l繁的浪涌電壓和浪涌電流,耐壓不夠和高溫時(shí)漏電流變化大的產(chǎn)品根本不能承受浪涌沖擊,瞬間就有可能被擊穿而失效或爆炸。

3. 電容器漏電流正確測(cè)量基礎(chǔ)知識(shí)

由于不同介質(zhì)特性及環(huán)境因素存在,自然界中不存在純凈的電容器,通常一個(gè)電容器由不同的部分組成,如圖1

image.png

測(cè)試漏電流時(shí),是在電容器兩端施加直流電壓Vs,然后用電流表測(cè)試通過電容器的電流,如圖2,由于雜質(zhì)的存在,實(shí)際電流有三個(gè)部分組成。如圖3

image.png image.png

由圖可見,實(shí)際上在測(cè)試的時(shí)候,測(cè)試的是總電流,而這總電流有三個(gè)分量,三個(gè)電流分量分別是:

image.png

1) Ip:流過絕緣電阻Rp的漏電流,也叫傳導(dǎo)泄漏電流。

流過絕緣層、導(dǎo)體之間或從導(dǎo)體到地的電流。該電流隨著絕緣的惡化而增加,并在Id介質(zhì)吸收電流(見圖 4)消失后占主導(dǎo)地位。因?yàn)樗喈?dāng)穩(wěn)定且與時(shí)間無關(guān),所以這是測(cè)量絕緣電阻的最重要的電流。

2) Ic:電容充電電流

電容兩端施加直流電壓時(shí),對(duì)電容器進(jìn)行充電的電流,為瞬時(shí)電流,在電容兩端電壓充至測(cè)試電壓后下降。

低容量電容器,電容充電電流Ic高于傳導(dǎo)泄漏電流Ip,但通常在我們開始記錄數(shù)據(jù)時(shí)就消失了。因此,在記錄之前讓讀數(shù)提前穩(wěn)定很重要。

高容量電容器,電容充電電流Ic可能會(huì)持續(xù)很長時(shí)間才能穩(wěn)定下來。

3) Id:介質(zhì)吸收電流

由介電材料內(nèi)分子極化引起的電流,介電材料吸收分量由Rd和Cd,通常生成多個(gè)時(shí)間常數(shù)(Rd×Cd)。

該電流最初很高,電流幅度與Rd 的值成反比,回逐漸呈指數(shù)衰減至0.

高容量電容器或容性設(shè)備以及潮濕污染的絕緣時(shí),電流下降時(shí)間會(huì)很慢。

4. 電容器漏電流的計(jì)算

電容器漏電流通常按國際或國內(nèi)流行標(biāo)準(zhǔn),可通過下列公式計(jì)算:

在電容器充電2分鐘即120s之后

I=kCV

k:固定系數(shù),0.01-0.03,通常0.03為民用標(biāo)準(zhǔn),0.01為標(biāo)準(zhǔn)

C:標(biāo)稱容量

V:電容器基本電

以一個(gè)25V耐壓1000μF電容器為例,其漏電流為

民用標(biāo)準(zhǔn):

標(biāo)準(zhǔn):image.pngspacer.gif

二.電容器漏電流測(cè)試痛點(diǎn)

由電容器漏電知識(shí)部分可以了解到,電容器漏電流測(cè)試非常重要,但是在測(cè)試的時(shí)候往往會(huì)由下列痛點(diǎn):

1. 測(cè)試效率低下,每個(gè)產(chǎn)品至少需要1分鐘-2分鐘時(shí)間,在大規(guī)模使用大容量電容器時(shí),沒有足夠時(shí)間進(jìn)行全檢。

2. 市場(chǎng)上常見的群電容漏電流解決方案,測(cè)試結(jié)果不夠精確,數(shù)據(jù)無法一一記錄及統(tǒng)計(jì)。

3. 大部分多個(gè)電容漏電流解決方案,無法實(shí)現(xiàn)和自動(dòng)化產(chǎn)線系統(tǒng)集成。

三.電容器漏電流快速測(cè)試解決方案

同惠電子在元器件檢測(cè)行業(yè)默默耕耘了三十年,始終秉承為客戶服務(wù)的宗旨,對(duì)于此類痛點(diǎn),有著高效、精準(zhǔn)、完善的解決方案。

1. 方案概述

電容器漏電流檢測(cè)效率不高的原因及解決方法有下列幾個(gè):

序號(hào)

原因

解決方法

1

電容器充電時(shí)間長,至少需要60s-120s

采用預(yù)充電方式,提前將電容器充滿,系統(tǒng)繼續(xù)進(jìn)行測(cè)試

2

只能單臺(tái)檢測(cè)

采用多路掃描法或多路并行電流采樣模塊,

3

漏電流測(cè)試儀器測(cè)試速度慢

采用高采樣率電流采樣模塊

4

電容器封裝不同,插拔速度較慢

設(shè)計(jì)不同工裝,提前裝好器件,多個(gè)一起測(cè)試

因此,同惠解決電容器漏電流快速測(cè)試方案特點(diǎn)如下:


l 采用并行測(cè)量法,提高整體測(cè)試效率

l 電容器預(yù)充電,以保證測(cè)試效率

l 測(cè)試通道:40或根據(jù)需求定制

l 預(yù)充電電源:電壓:0-650V,根據(jù)電容器規(guī)格、測(cè)試通道定制

l 預(yù)充電電流:0-50mA/通道,可定制

l 漏電流測(cè)試范圍:0.1nA-20mA,分辨率0.1nA

l 漏電流測(cè)試精度:0.5%

l 測(cè)試工裝,根據(jù)需求定制,可兼容多種規(guī)格電容器,方便更換治具頭及批量插裝電容器

整體結(jié)構(gòu)如圖:

image.png


2. 系統(tǒng)結(jié)構(gòu)

image.png

3. 測(cè)試治具

l 測(cè)試工裝

可根據(jù)不同封裝、不同尺寸電容器定制

image.png

l 控制單元

負(fù)責(zé)測(cè)試治具和測(cè)試模組之間連接線纜的切換,這樣的好處是在更換不同封裝、不同型號(hào)產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試時(shí),無需插拔各種連接線,直接更換產(chǎn)品即可。在實(shí)際應(yīng)用中達(dá)到快速、方便、簡(jiǎn)潔的操作,提高作業(yè)效率、產(chǎn)出目的。

image.png


l 測(cè)試線纜

為了抑制干擾獲得微小電流的準(zhǔn)確測(cè)量,本系統(tǒng)連接用件采用三同軸連接器和線纜。

image.png

4. 軟件架構(gòu)

image.png

5. 軟件頁面

測(cè)試軟件采用同惠ATE通用框架,根據(jù)不同產(chǎn)品或不同測(cè)試需求會(huì)有相應(yīng)更改。

l 測(cè)試主頁面

image.png

n 測(cè)試主頁-菜單

image.png

n 測(cè)試主頁-型號(hào)清單

image.png

n 測(cè)試主頁-測(cè)試結(jié)果

image.png

應(yīng)用
  • 電解電容漏電流測(cè)試

  • 鉭電容漏電流測(cè)試

  • 陶瓷電容漏電流測(cè)試

技術(shù)參數(shù)

電流模塊技術(shù)參數(shù)

產(chǎn)品型號(hào)

TH2550T

測(cè)量分辨率

61/2

電流測(cè)量

量程

精度

分辨率

20pA

±(1%+5fA)

0.1fA

200pA

±(0.5%+5fA)

0.1fA

2nA

±(0.2%+50fA)

1fA

20nA

±(0.2%+3pA)

10fA

200nA

±(0.2%+5pA)

100fA

2μA

±(0.1%+50pA)

1pA

20μA

±(0.05%+500pA)

10pA

200μA

±(0.05%+5nA)

100pA

2mA

±(0.05%+50nA)

1nA

20mA

±(0.05%+500nA)

10nA

測(cè)試端子

電流輸入

三軸BNC

接口

通訊接口

USB DEVICE

環(huán)境溫度與濕度

使用溫濕度

0°C - 45°C,30 % - 80 %,無冷凝

存放溫濕度

-20°C - 60°C,10 % - 90 %,無冷凝

精度保證

23±5, 30%-80%RH

預(yù)熱時(shí)間

1小時(shí)

環(huán)境溫度變化

自校準(zhǔn)后小于±3

校準(zhǔn)周期

1



整套測(cè)試系統(tǒng)配置清單

序號(hào)

配件名稱

號(hào)

單位

數(shù)量

備注

1

工控主機(jī)


臺(tái)

1


2

鍵盤、鼠標(biāo)、顯示器


1


3

多通道高精度電流采集模塊


臺(tái)


10通道/臺(tái)

4

可編程直流電源


臺(tái)

1

根據(jù)電壓電流選型

5

測(cè)試治具




6

系統(tǒng)機(jī)柜


臺(tái)

1


7

系統(tǒng)軟件


1


8






9






10


























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